Dotación Instrumental – microscopía
Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo (FESEM)
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo (FESEM) | ZEISS | ULTRA 55 | Microscopía Electrónica de Barrido de Emisión de Campo | ZEISS OXFORD INSTRUMENTS |
CryoFESEM
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| CryoFESEM | QUORUM TECHNOLOGIES | PP3010T | Preparación de muestras para el microscopio electrónico de barrido | QUORUM TECHNOLOGIES |
Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo con Cañón de Iones Focalizados (FIB)
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo con Cañón de Iones Focalizados (FIB) | ZEISS | AURIGA Compact | Microscopía combinada de electrones e iones focalizados Detector de rayos X (EDS) Detector de electrones retrodispersados difractados (EBSD) | ZEISS ORSAY PHYSICS KLEINDIEK OXFORD INSTRUMENTS |
Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo (HRFESEM)
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo (HRFESEM) | ZEISS | GeminiSEM 500 | Microscopía Electrónica de Barrido de Emisión de Campo | ZEISS OXFORD INSTRUMENTS |
Microscopio Electrónico de Transmisión de 100 kV (TEM 100)
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Microscopio electrónico de transmisión de 100 kV (TEM 100) | JEOL | JEM-1010 | Microscopía electrónica de transmisión | JEOL DEBEN AMT |
Microscopio Electrónico de Transmisión de 120 kV (TEM 120)
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Microscopio electrónico de transmisión de 120 kV (TEM 120) | JEOL | JEM-1400 Flash | Microscopía electrónica de transmisión Detector de rayos X (EDS) | JEOL OXFORD |
Microscopio Electrónico de Transmisión de Emisión de Campo de 200 kV (TEM 200)
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Microscopio Electrónico de Transmisión de Emisión de Campo de 200 kV (TEM 200) | JEOL | JEM 2100F | Microscopía Electrónica de Alta Resolución Detector de rayos X (EDS) DIGISTAR, ADT 3D, ASTAR | JEOL GATAN OXFORD NANOMEGAS |
Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Microscopio de Fuerza Atómica | Bruker | Multimode 8 | Microscopía de Fuerza Atómica y Efecto Túnel | BRUKER |
Microscopio de Rayos X (XRM)
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Microscopio de Rayos X (XRM) | ZEISS | Xradia 620 Versa | Microscopía de Rayos X | ZEISS |
Lupa
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Lupa Binocular | LEICA | MZ APO | Observación de muestras y adquisición de imágenes | LEICA MICROSYSTEMS |
Microscopio petrográfico
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Microscopio Petrografico | NIKON | Microphot | Observación de muestras y adquisición de imágenes | NIKON |
Microtest
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Módulo de microensayos | DEBEN | MICROTEST | Ensayos micromecánicos | DEBEN |
Ion Mill
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| IonMill | Fischione Instruments | 1010 | Preparación de muestras para el microscopio electrónico de transmisión | FISCHIONE INSTRUMENTS |
Dimpling Grinder
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Dimpling Grinder | Fischione Instruments | 200 | Preparación de muestras para el microscopio electrónico de transmisión | FISCHIONE INSTRUMENTS |
Ultrasonic Disk Cutter
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Ultrasonic Disk Cutter | Fischione Instruments | 170 | Preparación de muestras para el microscopio electrónico de transmisión | FISCHIONE INSTRUMENTS |
Secador por punto crítico
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Secador por Punto Crítico | LEICA | CPD300 | Preparación de muestras para el microscopio electrónico de barrido | LEICA MICROSYSTEMS |
Ultramicrotomo
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Ultramicrotomo | Reichert-Jung | ULTRACUT | Preparación de muestras para el microscopio electrónico de transmisión | LEICA MICROSYSTEMS |
Recubridor de alto vacío
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Recubridor de alto vacío | LEICA | EM MED020 | Preparación de muestras para el microscopio electrónico de barrido | LEICA MICROSYSTEMS |
Recubridor
| Equipo | Marca | Modelo | Aplicaciones | Fabricante |
|---|---|---|---|---|
| Recubridor | BAL-TEC | SCD 005 | Preparación de muestras para el microscopio electrónico de barrido | LEICA MICROSYSTEMS |
