| M.E. de barrido de emisión de campo (FESEM) | 25 | 75 | 135 |
| M.E.de barrido de emisión de campo con criobservación (CRYOFESEM) | 30 | 90 | 160 |
| M.E. de barrido de emisión de campo de alta resolución (HRFESEM) | 30 | 90 | 160 |
| FESEM con haz de iones focalizados (FIB): FESEM+Ga+Pt (coste/elemento) | 25+10+20 | 75+30+60 | 135+60+130 |
| Microscopio electrónico de transmisión 100 kV (TEM 100) | 13 | 39 | 70 |
| Microscopio electrónico de transmisión 120 kV (TEM 120) | 25 | 75 | 135 |
| M.E. de transmisión de emisión de campo 200 kV (HRTEM) | 30 | 90 | 160 |
| Microscopio de fuerza atómica (AFM) | 13 | 39 | 70 |
| Microscopio de rayos X (XRM) Adquisición de datos | 10 | 20 | 40 |
| Secador punto crítico (coste/proceso) | 13 | 39 | 70 |
| Microtest (célula de carga) | 7 | 7 | 7 |
